首页
Home
产品分类
Nav
解决方案
Nav
学习中心
Nav
技术支持
Nav
关于我们
Nav
新闻中心
Nav
客户展示
Nav
高温低电阻测试仪器
高温绝缘电阻
高低温介电温谱测试仪冷热台
高温介电温谱测试仪
铁电分析仪
压电系数测试仪
热释电系数测试仪
PVDF 薄膜极化
TSDC热刺激电流测试仪
高压极化电源薄膜
高压功率放大器
多通道介电测试系统
高温四探针
高温退火炉
简易探针台
小型探针台
中端探针台
双面探针天
综合性分析探针台
高低温探针台
高低温真空探针台
电介质充放电系统
高压TSDC
激光测振仪
200V功率放大器
500V功率放大器
700V功率放大器
1kV功率放大器
2kV功率放大器
4kV功率放大器
5kV功率放大器
8kV功率放大器
10kV功率放大器
20kV功率放大器
30kV功率放大器
40kV功率放大器
功能材料科研仪器
静电计
电线电缆耐电痕试验仪
高频脉冲耐电晕
高压漆膜连续性
电压击穿试验仪
闭孔温度、破孔温度测试仪
电弱点测试仪
50点耐压测试系统
隔膜气密性测试系统
脉冲电声法(PEA)直流或交流场下的空间电荷测量系统
长期耐腐蚀老化试验平台
耐电弧试验仪
低压漏电起痕试验仪
高压漏电起痕试验仪
漆包线电压击穿试验仪
行业检测设备
忆阻器单元研发测试方案
纳米发电机测试方案
电运输特性测试方案
mosfet测试方案
半导体晶圆测试方案
锂电池生产工程的解决方案
介电材料的解决方案
材料测试解决方案
电迁移评估系统-AMI系列
电迁移评估系统-AME系列
电迁移评估系统-AMQ
PCB
压接型IGBT器件封装的电热力多物理量均衡调控方法
大功率新能源
精彩视频
干货文章
亮点详解
测量技巧
功能材料测试仪器
功能材料测试仪器
高低温介
电温
谱测试系统
高温介电
温度范围:RT~800 (最高1650)°C
高低温介电
温度范围
:-185~800℃
铁电/压电/热
释电测试仪
器
铁电分析仪
最小脉冲宽度:0.5ns
压电系数测试仪
测试频率:30Hz~140Hz
热释电测试仪
测量温度:室温~800℃
激光测振仪
分辨率:0.01mm
高温电阻测试仪器
高温低电阻
温度范围:RT~1000
℃
高温绝缘电阻
温度范围:RT~800 (最高1650)°C
极化装置与电源
薄膜高压极化电源
稳定性:0.016%
高压薄膜极化装置
稳定性:0.016%
PVDF薄膜极化
528MHz
功率放大器
200V功率放大器
0 ~ ±200V,0 ~ ±100mA
500V功率放大器
0 ~ ±500V,0 ~ ±40/80mA
700V功率放大器
0 ~ ±700V,0 ~ ±100mA
1kV功率放大器
0 ~ ±1kV,0 ~ ±20/40mA
2kV功率放大器
0 ~ ±2kV,0 ~ ±10/20mA
4kV功率放大器
0 ~ ±4kV,0 ~ ±20mA
5kV功率放大器
0 ~ ±5kV,0 ~ ±80mA
8kV功率放大器
0 ~ ±8kV,0 ~ ±50mA
10kV功率放大器
0 ~ ±10kV,0 ~ ±40mA
20kV功率放大器
0 ~ ±20kV,0 ~ ±40mA
30kV功率放大器
0 ~ ±30kV,0 ~ ±20mA
40kV功率放大器
0 ~ ±40kV,0 ~ ±15mA
功能/半导体封装材料测试仪器
耐电弧测试仪
试验电压12.5kV
低压漏电起痕试验仪
25~800V 可调
高压漏电起痕试验仪
0 ~6000V±5%可调
电磁兼容/高分子材料
M1052
ZigBee , Mifare , WiFi , LoRa
M1062
WiFi,双网口,三路CAN
储能科学与工程试验设备
闭孔温度、破孔温度测试仪
测试频率(max) 1MHz
电弱点测试仪
250G固态硬盘,千兆网口
50点耐压测试系统
电流精度≤2%
隔膜
气密性测试系统
试验长度:>3000m
电线电缆检测仪器
高频脉冲耐电晕仪
±2000V, 室温-300℃
高压漆膜连续性仪
0.05~1.6mm
电线电缆耐电痕仪
7KVA,<1.5%
漆包线电压击穿试验仪
20kV
(交流、直流)
工程塑料绝缘测试仪器
电压击穿试验仪
20kv , 50kv , 100kv
50点耐压测试系统
电流精度≤2%
长期耐腐蚀老化试验平台
电压 0~1200V
脉冲电声法(PEA)直流或交流场下的空间电荷测量系统
静电/安规检测仪器
静电计
输入阻抗:100TΩ
M1062
WiFi,双网口,三路CAN
行业检测设备
行业检测设备
其他功能材料测试仪器
熔喷布TSD
温度范围: -185-600°C
阻抗分析仪
WiFi,双网口,三路CAN
高压功率放大器
2
Kv 4
Kv
10K
v
电介质
充放电系统
1mA RT~200℃
0.1℃
多通道介电测试系统
切换时间 1 ms
热刺激电流测试仪
10kV
-185~600°C
探针台
简易探针台
满足I-V/C-V,PIV测试
小型探针台
可用于6英寸以内样品测试
中
端探针
台
兼容高倍率
金相显微镜
双
面探针台
用于晶圆
和PCB板测试
综合性分析探针台
可用于
12英寸以内样品测试
高低温探针台
采用密闭腔结构
高低温真空探针台
温度范围
77K-675K(液氮)
高温
测试装置
高温退火炉
800G,1200G,1450G
高温四探针
RT~1200℃,精度高,双电测量