电迁移评估系统-AMQ系列测量方案
“电容器温度特性评估系统”是一个自动化的多通道将环境试验室与测量和评估系统相结合的系统，有效地收集数据。
电容器漏电测试系统自动评估电容器在高温和高温/高湿环境下的绝缘退化特性。
■评价对象
•电容器
自动记录电容器的温度和频率特性
电容器漏电测试系统AMI-C
电化学迁移评估系统AMI
特征
环境试验箱
应用
系统框图
测试程序
测试项目、测量项目和条件以及数据处理
规格
Platinous  J  系列恒温箱
迷你零下紧凑型超低温箱箱
自动测量多达64个通道
图形功能允许实时查看测量结果
多种可选夹具适用于不同的测试样品（可选）
可选择不同的测试模式
电化学迁移评估系统可以轻松有效地评估产品寿命和绝缘电阻，并具有从低压测试到高压测试的众多应用。
■评价对象
•印制板
•绝缘材料
•半导体材料
作为行业标准试验箱系列，Platinous  系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，还为理想、环保的环境试验箱追求新的环境标准。
Mini  Subzero  支持从超低温范围（-75℃ /  -85℃ ）到高温范围（+100℃ /  +180℃ ）的宽温度范围。该腔室还提供远程监控和操作。
该系统可以在不同温度环境下测量多通道的静电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）。
您可以选择  8  的倍数的通道数，至多  64  个
通道。
该系统可用于评估电容器和各种材料在特定温度环境下的静电容量（C）、损耗因数（D）和阻抗（Z）。
收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电气特性值和变化率，可以通过各种图形功能实时查看。
除了  SMD  元件专用夹具外，我们还提供针对分立器件形状定制的夹具。
三种模式可供选择：温度特性评估测试、恒定运行测试和频率特性测试。

<温度特性评价试验>在这种测试模式下，特性数据会自动记录并与多达  40  步的温度变化同步。

<持续运行测试>这种测试模式测量特定温度环境中特性随时间的变化，并自动记录数据。

<频率特性评价试验>这种测试模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录各种频率的特性数据。

测试可以与温度特性评估测试或恒定运行测试相结合。
•  电容器
•  静电容量（C）
•  损耗系数（D）
•  阻抗(Z)的温度特性
•  频率特性
•  电子材料
•  印制板
•  流量
•  绝缘材料（树脂、薄膜等）
•  介电材料
  （钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）
①  系统控制器
用于系统管理的计算机和监视器，用于记录测试条件、检查运行状态和执行数据处理。

②  不间断电源
系统控制器的备用电源。

③  RS-232C
操作员通过系统控制器控制和监控环境测试系统的温度。

④  扫描单元
该装置用测量电缆的严苛测量标准8通道的静电容量  (C)、损耗因数  (D)  和阻抗  (Z)。您可以将通道数增加到每个单元至多64个，以8个通道为增量。

⑤  测量电缆
由Teflon制成的同轴电缆连接到测试系统内的试样或夹具。
⑥  继电器单元
该单元将连接到测试系统内的样本或夹具的测量电缆连接到扫描仪单元。继电器单元使连接变得容易。

⑦  试样固定夹具（可选）
用于连接SMD组件或分立器件的卡入式夹具。

⑧  LCR表
该仪表可测量静电容量  (C)、损耗因数  (D)  和阻抗  (Z)。

⑨  绝缘电阻测试仪（选配）
该测试仪测量绝缘电阻。

⑩  RS-485（可选）
在环境测试系统选项菜单中，可以选择RS-485通信作为系统控制器和环境测试系统的通信协议。