高温、精度高、性能高测试仪
HGTZ-800系列
高温四探针测试仪
红外加热、
支持真空、气氛环境
优势①
优势②
优势③
华测公司为针对新材料电性能检测仪器系列厂家。
高温四探针测试仪可实现高温下的匀速、
阶梯、降温下的温度范围的测试。
阶梯、降温下的温度范围的测试。
高温四探针测试仪可实现小于±0.5℃温
度测量误差（限反射炉）。
度测量误差（限反射炉）。
公司开发的高温四探针测试系统软件将高温测试平台、高温测试夹具与keithley（吉时利）系列、2400、2450、2600系列源表测量设备无缝连接。
产品介绍
产品特点
功能特点
应用领域
测量曲线图谱
HGTZ-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用精度高的AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以实现不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国jia标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提升精度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
HGTZ-800系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国jia标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提升精度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
HGTZ-800系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。
█ 多晶硅材料
█ 石墨功能材料
█ 石墨功能材料
█ 导电功能薄膜材料
█ 导电玻璃（ito）材料
█ 其它导电材料等。
█ 石墨烯材料
█ 半导体材料
█ 锗类功能材料
█ 柔性透明导电薄膜。
█ 半导体材料
█ 锗类功能材料
█ 柔性透明导电薄膜。
█ 多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现高温、真空、气氛环境下进行测试；
█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提升测试精度；
█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的电阻、电阻率；
█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T等测量功能;
█ 温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度比较可靠；
█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv；
█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提升测试精度；
█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的电阻、电阻率；
█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T等测量功能;
█ 温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度比较可靠；
█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv；
█ 10寸触摸屏设计，一体化设计机械结构，稳定、可靠；
█ 程控电子升压技术，纹波更低、TVS防护系统，保证仪器安全性；
█ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针；
█ huace pro 控制分析软件。
高速加热与冷却方式
高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现较快速的冷却。
温度控制
过红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在大部分温度下可提供高的精度。
不同环境的加热与冷却
加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体,静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线 可传送到加热/冷却室。
先后应用到清华大学材料学院、北京理工大学、同济大学、中科院热物理所、国防工程大学、山东大学、华南理工大学等。
匀速度加热试验 环境：气氛 阶梯式加热试验 环境：气氛 阶梯式加热试验 环境：气氛
材料：陶瓷 材料：陶瓷 （仅反射炉） 材料：超材料
硬件配置
技术指标
软件功能
整体为桌面型设计，可以实现实验室无灰尘排放的要求。内置工控机、触摸屏，可以利用工控机设定加热曲线，并实现和其他测试设备的集成控制。定点控温模式下，可以将样品10s内加热到1000摄氏度。控温加热下，可以5度/s速率下线性加热到1000摄氏度。在1000度下可以连续工作时间不低于1小时。采用铂铑热电偶直接测定样品附近温度。
样品可以工作在大气、真空、气氛环境下加热。配备真空泵，水冷设备，配备超温、缺水、过流等报警保护装置。
温度均匀区：60mm*100mm。
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ双核处理器
█ 集成打机印接口，可扩充8个USB接口
█支持16G内存，60G固态硬盘，让系统运行流畅
█ 集成打机印接口，可扩充8个USB接口
█支持16G内存，60G固态硬盘，让系统运行流畅
测试系统的软件平台 Huacepro ，采用labview系统开发，符合绝缘材料的各项测试需求，具备较强的稳定性与操作安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料也可保存恢复。支持新的标准，兼容XP、win7、win10系统。
█ 多语介面：支持中文/英文 两种语言界面；
█ 状态监控：系统测试状态浏览；
█ 多语介面：支持中文/英文 两种语言界面；
█ 状态监控：系统测试状态浏览；
█ 图例管理：通过软件中的状态图示对状态说明，了解测试状态；
█ 使用权限：可设定使用者的权限，方便管理；
█ 故障状态：软件具有设备的故障报警功能。
温度范围：室温-1200℃,(反射炉加温)配水冷机)；
控温精度：±0.5℃；
测量精度：±0.25℃；
升温斜率：800℃/min （最快可10秒达800度）
降温斜率：1-200℃/min (可自调整）；
测量精度：0.5%；
样品规格：直径：20mm以内；厚度：5mm以内；
电极材料：铂金;
测量方式：2线-4线测量方式；
供 电：220V±10%，50Hz；
工作环境：0℃ - 55℃；
存储条件:- 40℃-70℃；
尺 寸：750mmX660mmX360mm；
重 量：25 kg
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