高温低电阻测试仪器高温绝缘电阻高低温介电温谱测试仪冷热台高温介电温谱测试仪铁电分析仪压电系数测试仪热释电系数测试仪PVDF 薄膜极化TSDC热刺激电流测试仪高压极化电源薄膜高压功率放大器多通道介电测试系统高温四探针高温退火炉简易探针台小型探针台中端探针台双面探针天综合性分析探针台高低温探针台高低温真空探针台电介质充放电系统高压TSDC激光测振仪200V功率放大器500V功率放大器700V功率放大器1kV功率放大器2kV功率放大器4kV功率放大器5kV功率放大器8kV功率放大器10kV功率放大器20kV功率放大器30kV功率放大器40kV功率放大器功能材料科研仪器静电计电线电缆耐电痕试验仪高频脉冲耐电晕高压漆膜连续性电压击穿试验仪闭孔温度、破孔温度测试仪电弱点测试仪50点耐压测试系统隔膜气密性测试系统脉冲电声法(PEA)直流或交流场下的空间电荷测量系统长期耐腐蚀老化试验平台耐电弧试验仪低压漏电起痕试验仪高压漏电起痕试验仪漆包线电压击穿试验仪行业检测设备忆阻器单元研发测试方案纳米发电机测试方案电运输特性测试方案mosfet测试方案半导体晶圆测试方案锂电池生产工程的解决方案介电材料的解决方案材料测试解决方案电迁移评估系统-AMI系列电迁移评估系统-AME系列电迁移评估系统-AMQPCB压接型IGBT器件封装的电热力多物理量均衡调控方法大功率新能源精彩视频干货文章亮点详解测量技巧
Huace-8D双面探针台
双面探针台
     探针台是一种辅助执行机构,测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台(chuck)上,在显微镜配合下,X-Y移动器件,找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座上的X-Y-Z的三向旋钮,控制前部探针(射频或直流探针),精准扎到被测点,从而使其讯号线与外部测试机导通,通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。
      双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer , LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。

技术参数
台体配件技术参数
chuck尺寸:8英寸;
水平旋转:可360°旋转,细调精度不大于0.1°,带角度锁死装置;
X-Y移动行程:8英寸×8英寸;
X-Y移动精度:10μm/1μm可选;
样品台Z轴调节:可升降10mm;
样品固定:样品夹定,尺寸可调;真空吸附固定,卡盘多圈吸附环可独立控制;
双面点阵平台:气动升降平台升起为双平台,落下可做单平台使用;平台针座数量:单平台最多放置8个CB-200针座;
卡盘结构:普通/高温/带背电极等结构卡可选择;

温度范围:RT~300℃(400℃、500℃可选);
温控精度:0.1℃;
温控稳定性:±1℃;
温控传感器:100Ω铂电阻传感器;
CCD:200W/500W/1200W像素可选(正反面);
显微镜类型:单筒/体视/金相显微镜可选;
放大倍率:16X-100X/20X-2000X ;
显微镜调节:水平方向绕立柱旋转X-Y移动2×2英寸,Z轴行程50.8mm;
光源:外置LED环形光源/同轴光源;
屏蔽箱;
高压测试配件;
光学防震桌;
射频测试配件;
镀金卡盘;
转接头;
探针卡夹具;
其他
显微镜类型:L型单筒显微镜;
连续变倍率:6.3:1;
放大倍率范围:0.75-5X;
放大倍率:315X(计算公式:变焦*CCD*显示器) ;
显微镜调节:万向移动 ;
光源:同轴光源 ;
X-Y-Z移动行程:12*12*12mm;
移动精度:10/2/0.7/0.5/0.35μm可选;
固定方式:磁力吸附/真空吸附可选;
线缆:同轴线/三轴线可选;
漏电精度:10pA/100fA ;
接头类型:BNC/三同轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子等可选;
材质:钨钢/铍铜可选;
针尖直径:0.2/1/2/5/10/20/50/100um可选;
台体规格
温控系统
正面光学系统
探针可选配件
背面光学系统
探针座
探针夹具
探针