高温低电阻测试仪器高温绝缘电阻高低温介电温谱测试仪冷热台高温介电温谱测试仪铁电分析仪压电系数测试仪热释电系数测试仪PVDF 薄膜极化TSDC热刺激电流测试仪高压极化电源薄膜高压功率放大器多通道介电测试系统高温四探针高温退火炉简易探针台小型探针台中端探针台双面探针天综合性分析探针台高低温探针台高低温真空探针台电介质充放电系统高压TSDC激光测振仪200V功率放大器500V功率放大器700V功率放大器1kV功率放大器2kV功率放大器4kV功率放大器5kV功率放大器8kV功率放大器10kV功率放大器20kV功率放大器30kV功率放大器40kV功率放大器功能材料科研仪器静电计电线电缆耐电痕试验仪高频脉冲耐电晕高压漆膜连续性电压击穿试验仪闭孔温度、破孔温度测试仪电弱点测试仪50点耐压测试系统隔膜气密性测试系统脉冲电声法(PEA)直流或交流场下的空间电荷测量系统长期耐腐蚀老化试验平台耐电弧试验仪低压漏电起痕试验仪高压漏电起痕试验仪漆包线电压击穿试验仪行业检测设备忆阻器单元研发测试方案纳米发电机测试方案电运输特性测试方案mosfet测试方案半导体晶圆测试方案锂电池生产工程的解决方案介电材料的解决方案材料测试解决方案电迁移评估系统-AMI系列电迁移评估系统-AME系列电迁移评估系统-AMQPCB压接型IGBT器件封装的电热力多物理量均衡调控方法大功率新能源精彩视频干货文章亮点详解测量技巧
Huace HT-11高低温真空探针台
高低温真空探针台
     探针台是一种辅助执行机构,测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台(chuck)上,在显微镜配合下,X-Y移动器件,找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座上的X-Y-Z的三向旋钮,控制前部探针(射频或直流探针),精准扎到被测点,从而使其讯号线与外部测试机导通,通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。
     因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
     当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至**温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
    晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。
技术参数
产品特点及应用
极低温测试
高温无氧化测试
尺寸:2英寸/4英寸/6英寸;
水平旋转:可360°旋转,可微调15°,精度0.1°,带角度锁死装置;
样品固定:弹簧压片;
观察窗口:
2英寸/4英寸/6英寸
真空度:10^-6torr ;
探针臂接口:4~6个探针臂接口
其他接口:电信接口、真空接口、光纤接口、冷源接口;
制冷方式:液氮/液氦/制冷机;
温度范围:77K-573K/4.5K-573K;
温控精度:0.1K/0.01K/0.001K;
稳定性:±1K/±0.1K/±0.01K;
尺寸:880mm长*880mm宽*600mm高/980mm长*980mm宽*600mm高;
设备重量:约100/120KG;
显微镜类型:单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜;
放大倍率:16X-200X/20X-4000X;
移动行程:水平360°旋转,Z轴行程50.8mm;
光源:外置LED环形光源/同轴光源;
CCD:200万像素/500万像素/1200万像素;
X-Y-Z移动行程:50mm*50mm*50mm;
结构:外置探针臂,真空波纹管结构;移动精度:10μm/1μm;
线缆:同轴线/三轴线/射频线;
漏电精度:10pA/100fA/10fA;
固定探针:弹簧固定/管状固定;
接头类型:BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子;
频率支持:DC-67GHZ ;
针尖直径:0.5μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm
真空组件:分子泵组/机械泵/离子泵;
冷源组件:50L/100L液氮罐/液氦罐/制冷机
超高温配件
显示器;
转接头;
射频测试配件;
屏蔽箱;
光学平台
镀金卡盘;
光电测试配件

高压测试配件;
分子泵组;
激光系统;
气敏测试配件;
◆ 2~6英寸样品台;
◆ 高真空腔体;
◆ 防辐射屏设计,样品温度均匀性**;
◆ 77K-675K高低温环境;
◆ 兼容IV/CV/RF测试;
◆ 外置多探针臂,移动行程大;
◆ 经济实用,可无缝升级。
台体规格
光学系统
定位器
其他组件
可选附件