半导体封装材料准备的耐电痕试验仪

半导体封装材料准备的耐电痕试验仪是用于评估半导体封装材料中环氧塑封料（EMC）在电场作用下抵抗电痕形成能力的重要设备。以下是关于耐电痕试验仪的详细介绍：

一、试验目的：

评估EMC的耐电痕特性，确保其在封装过程中具有足够的绝缘强度和安全性。

二、主要参数：

电痕化指数（CTI）：评价EMC耐电痕特性的主要参数，对于功率电子器件而言，通常要求CTI≥600V的EMC才能满足封装要求。

相比电痕化指数（CTI）和耐电痕化指数（PTI）：两者是反映固体绝缘材料绝缘性能好坏的重要指标。CTI用于比较绝缘材料的基本特性和性能，而PTI用于判断某种绝缘材料和其制造部分的质量控制是否可被接受。

三、设备特点：

智能控制升级：采用触控屏控制系统，提供直观易用的操作界面，并具有智能分析功能，能够自动分析并输出测试报告。

电极和机构优化：采用高纯度的铂金电极，确保测试过程中电极与样品的接触良好，减少测试误差。同时，优化全向可调节机构，使电极调节更加灵活、精准。

电压电流精准控制：通过***电源和电流传感器，实现试验电压电流的精准控制（±0.5%），确保测试数据的准确性和可靠性。

安全性能提升：增加多重安全保护机制，如过流、过压、过热保护等，确保测试过程的安全可靠。

环境适应性增强：优化设备结构，提高设备的环境适应性，使其能够在更广泛的环境条件下进行测试。

四、测试标准：

耐漏电起痕试验仪符合GB/T4207、IEC60112、IEC60335、UL746A等标准，确保测试结果的准确性和可靠性。

五、主要测定步骤：

配制溶液、预处理（环境温度23±5℃、相对湿度50%±10%、至少保持24h，试验前试样表面应清洗）。

测试、出具测定结果，测定结果以CTI或PTI加测得的电压值表示。

六、测试注意事项：

准确调节滴液装置，滴液间隔时间30±5s、50滴的滴液时间控制在24.5±2min等。

每次试验前后都需清洗电极，先用合适溶剂清洗，然后用去离子水漂洗。

测定结束条件包括过流装置动作、发生持续燃烧或第50（100）滴溶液落下后在25s内无过流装置动作或发生持续燃烧。

测试结束后需及时排出试验箱内的有毒气体。

通过耐电痕试验仪的测试，可以更加准确地评估半导体封装材料的电学性能和安全性能，为半导体芯片的安全稳定封装提供有力保障。